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WEPER XRF2510 X荧光光谱仪

WEPER XRF2510  X荧光光谱仪

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适用范围 测试原理 技术特点 技术参数

        适用于煤或煤灰等固态或液态样品中的元素含量定性和定量分析,可广泛应用于电力、煤炭、冶金、化工、建材、地质、环境、医药、检测、科研院校等行业。

       采用能量色散 X射线荧光光谱分析方法,使用 50W功率 X射线光管直接激发被测样品产生 X射线荧光,通过设定激发电压以及滤光片材料来选择能量范围。使用 SDD探测器和多道分析器接收 X荧光信号,获得样品中各元素的计数强度并绘制出光谱图。真空模式或者氦气模式下获取轻元素的特征荧光。

  • 样品适应性佳:可对粉末、颗粒、溶液、溶胶等各种固体或液体样品中元素成分进行分析。
  • 元素检测范围广:可检测钠(Na)~铀(U)的所有元素,含量从 ppm ~100% 。
  • 操作简便:无需复杂的样品前处理,仅需将样品放入测试区域,点击开始分析,稍等片刻即可获得准确分析结果。
  • 分析效率高:单样测试时间 1~15min(根据实际样品情况调整测试时间)。
  • 检测成本低:无需化学试剂等耗材,真空模式下不消耗任何氦气。
  • 高灵敏度和稳定性:采用德国进口超薄石墨烯 SDD探测器,有着更好的计数率和最好的能量分辨率,并且能够充分利用 50W 功率光管的输出,使得仪器具有高稳定性和灵敏度。
  • 样品可旋转测试:样品旋转测试功能对于不均匀样品(如煤灰成分)非常重要,可最大限度保证测试结果准确。
  • 人机交互界面友好:符合人机工程学的触摸屏设计让操作人员摆脱键盘和鼠标的束缚,触屏控制软件设计简单直观、所见即所得,使测试工作变得轻松愉快。
  • 安全性高:仪器测试腔体采用厚实的铜体屏蔽 X 射线、电子互锁设计、软件中断三重保护措施,确保任何测试环境下绝无 X 射线泄露。

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适用范围

        适用于煤或煤灰等固态或液态样品中的元素含量定性和定量分析,可广泛应用于电力、煤炭、冶金、化工、建材、地质、环境、医药、检测、科研院校等行业。

测试原理

       采用能量色散 X射线荧光光谱分析方法,使用 50W功率 X射线光管直接激发被测样品产生 X射线荧光,通过设定激发电压以及滤光片材料来选择能量范围。使用 SDD探测器和多道分析器接收 X荧光信号,获得样品中各元素的计数强度并绘制出光谱图。真空模式或者氦气模式下获取轻元素的特征荧光。

技术特点
  • 样品适应性佳:可对粉末、颗粒、溶液、溶胶等各种固体或液体样品中元素成分进行分析。
  • 元素检测范围广:可检测钠(Na)~铀(U)的所有元素,含量从 ppm ~100% 。
  • 操作简便:无需复杂的样品前处理,仅需将样品放入测试区域,点击开始分析,稍等片刻即可获得准确分析结果。
  • 分析效率高:单样测试时间 1~15min(根据实际样品情况调整测试时间)。
  • 检测成本低:无需化学试剂等耗材,真空模式下不消耗任何氦气。
  • 高灵敏度和稳定性:采用德国进口超薄石墨烯 SDD探测器,有着更好的计数率和最好的能量分辨率,并且能够充分利用 50W 功率光管的输出,使得仪器具有高稳定性和灵敏度。
  • 样品可旋转测试:样品旋转测试功能对于不均匀样品(如煤灰成分)非常重要,可最大限度保证测试结果准确。
  • 人机交互界面友好:符合人机工程学的触摸屏设计让操作人员摆脱键盘和鼠标的束缚,触屏控制软件设计简单直观、所见即所得,使测试工作变得轻松愉快。
  • 安全性高:仪器测试腔体采用厚实的铜体屏蔽 X 射线、电子互锁设计、软件中断三重保护措施,确保任何测试环境下绝无 X 射线泄露。
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测试原理

       采用能量色散 X射线荧光光谱分析方法,使用 50W功率 X射线光管直接激发被测样品产生 X射线荧光,通过设定激发电压以及滤光片材料来选择能量范围。使用 SDD探测器和多道分析器接收 X荧光信号,获得样品中各元素的计数强度并绘制出光谱图。真空模式或者氦气模式下获取轻元素的特征荧光。

技术特点

  • 样品适应性佳:可对粉末、颗粒、溶液、溶胶等各种固体或液体样品中元素成分进行分析。
  • 元素检测范围广:可检测钠(Na)~铀(U)的所有元素,含量从 ppm ~100% 。
  • 操作简便:无需复杂的样品前处理,仅需将样品放入测试区域,点击开始分析,稍等片刻即可获得准确分析结果。
  • 分析效率高:单样测试时间 1~15min(根据实际样品情况调整测试时间)。
  • 检测成本低:无需化学试剂等耗材,真空模式下不消耗任何氦气。
  • 高灵敏度和稳定性:采用德国进口超薄石墨烯 SDD探测器,有着更好的计数率和最好的能量分辨率,并且能够充分利用 50W 功率光管的输出,使得仪器具有高稳定性和灵敏度。
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